• Revistas, Journal papers
  

• J. Machado da Silva, Jorge S. Duarte, e J. S. Matos, "Functional In-Circuit Characterisation of SD Modulators", Measurement, Journal of the International Measurement Confederation IMEKO, Elsevier, Special Issue on ADC Modelling and Testing, Vol. 32/4, pág. 257-264, 1 Novembro, 2002.
• Hélio S. Mendonça, J. Machado Silva, e José S. Matos, ADC Testing Using Joint Time-Frequency Analysis, Journal of Computer Standards & Interfaces, Elsevier, Vol.23, pág.129-135, 2001.
• C. Morandi, G. Chiorboli, D. Dallete, D. Haddadi, S. Mazzoleni, J. Machado Silva, H. Pernull, e P. Y. Roy, DYNAD: a Framework IV SMT project addressed to the development of dynamic test techniques for analog-to-digital converters, Journal of Computer Standards & Interfaces, Vol. 22, pág. 113-119, 2000.
• I. M. Bell, S. J. Spinks, e J. M. Silva, Supply Current Test of Analogue and Mixed Signal Circuits, IEE Proceedings - Circuits, Devices and Systems, Vol. 143, No 6, pág. 399-407, Dezembro, 1996.
• J. Machado da Silva, J. Silva Matos, Ian M. Bell, e Gaynor E. Taylor, Mixed Current/Voltage Observation Towards Effective Testing of Analog and Mixed-Signal Circuits, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), Special Issue on Analog and Mixed-Signal Testing, Vol. 9, No 1/2, pág. 75-88, Agosto/Dezembro, 1996.
• J. Machado da Silva, J. Silva Matos, Ian M. Bell, e Gaynor E. Taylor, Cross-correlation Between iDD and vOUT signals for Testing Analogue Circuits, IEE Electronics Letters, Vol. 31, no 19, pág. 1617-1618, 14 Setembro, 1995.
• José S. Matos, João C. Ferreira, Ana C. Leão, e José M. Silva, Test of mixed-signal boards using test-support ICs. Part I — Hardware, The INESC Journal of Research and Development, Vol. 5, no 1, pág. 5-23, Janeiro/Junho, 1995.
• José Machado da Silva, Motor-Drive Algorithm Saves Space and Cycles, EDN Magazine- Design Ideas, 17 Fevereiro,  1994

• Actas de Conferências, Conferences
  

• Francisco X. Duarte, José Machado da Silva, José C. Alves, Gabriel Pinho, and José S. Matos, "A Processor for Testing Mixed-Signal Cores in System-on-Chip”, Proceedings of the 8th Digital System Design, pp. 184-191, Porto, Sep. 2005.
• José Machado da Silva, “Low-Power In-Circuit Testing of a LNA", Proceedings of the 11th International Mixed-Signal Testing Workshop, Cannes, June 2005.
• Gabriel A. Pinho, José Machado da Silva, Hélio S. Mendonça, and José S. Matos, “A Test Methodology to Compute Typical LNA Characterization Parameters", Abstract Book and CD-ROM of the XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, pp. 127, Bordeaux, November 2004.
• Francisco X. Duarte, José Machado da Silva, José C. Alves, and José S. Matos, “An Infrastructure and Application Specific Processor for Testing Analogue and Mixed-Signal SoCs" Abstract Book and CD-ROM of the XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, pp. 123, Bordeaux, November 2004.
• J. A. Braga, J. Machado da Silva, J. C. Alves, and J. S. Matos, “A Wrapper for Testing Analogue to Digital Converters Cores in SoCs", Informal Digest of Papers of the 9th IEEE European Test Symposium, pp. 170-175, Ajaccio, Córsega, France, May 2004
• Hélio S. Mendonça, J. Machado da Silva, e J. S. Matos, "An algorithm for ADC's harmonic estimation suitable for preliminary BIST operations", Digest of papers of the IEEE European Test Workshop 2003, pág. 211-212, Maastricht, The Netherlands, Maio, 2003.
• Hélio S. Mendonça, J. Machado da Silva, e J. S. Matos, "Computing ADC Harmonic Content from a Reduced Number of Values", Proceedings of the IEEE  Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMtc/2003), pág. 1270-1274, Vail, Colorado, Maio, 2003.
• J. Machado da Silva, Jorge S. Duarte, e J. S. Matos, "A New BIST Scheme for SD Modulators", Proceedings of the 16th Conference on Design of Circuits and Integrated  Systems, pág. 173-178, Porto, Novembro, 2001.
•  J. Machado da Silva, Jorge S. Duarte, e J. S. Matos, "A Method for the In-Circuit Testing of SD Modulators", Proceedings of the 11th IMEKO TC-4 Symposium Trends in Electrical Measurement and Instrumentation and 6th Euro Workshop on ADC Modelling and Testing, pág. 151-154, Lisboa, Setembro, 2001.
• Hélio S. Mendonça, J. Machado da Silva, e J. S. Matos, "Differential Gain and Phase Testing Using Joint Time-Frequency Analysis", Proceedings of IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, pág. 2027-2030, Budapeste, Maio, 2001.
• Hélio S. Mendonça, J. Machado da Silva, e J. S. Matos, "A Comparison of ADC Test Methods", Proceedings of the XV Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pág. 102-107, Montpellier, Novembro, 2000.
• J. Machado da Silva, Jorge S. Duarte, e J. S. Matos, "Mixed-Signal BIST in a SoC Environment", Proceedings of the XV Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pág. 459-463, Montpellier, Novembro, 2000.
• Luís C. Laranjeira, José M. Silva, and José S. Matos, "A Tool for Fault Extraction in PCBs", (Poster) Informal Digest of the IEEE European Test Workshop 2000, Cascais, Maio, 2000.
• José M. Silva, J. S. Duarte, and José S. Matos, "Mixed-Signal BIST Using Correlation and Reconfigurable Harware", (Poster) Design, Automation and Test in Europe Conference, Paris, Março, DATE 2000.
• Hélio S. Mendonça, José M. Silva, and José S. Matos, "A Joint Time-Frequency Environment for Testing A/D Converters", Proceedings of the XIV Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pp.559-564, Palma de Mallorca, Novembro, 1999.
• Jorge S. Duarte, José M. Silva, and José S. Matos, "Test of a D/A Converter Using Cross-correlation and Reconfigurable Hardware", Proceedings of the XIV Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pp.565-570, Palma de Mallorca, Novembro, 1999.
• Luís C. Laranjeira, José M. Silva, and José S. Matos, "Test Node Selection and Fault Diagnosis in an IEEE1149.4 Environment", Proceedings of the XIV Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pp.565-570, Palma de Mallorca, Novembro, 1999.
• Hélio S. Mendonça, José M. Silva, and José S. Matos, “ADICTS - An Analogue to Digital Converter Test System", Proceedings of the 4th IMEKO International Workshop on ADC Modelling and Testing, pp.187-189, Bordeaux, Setembro, 1999.
• Hélio S. Mendonça, José M. Silva, and José S. Matos, "ADC Testing Using Joint Time-Frequency Analysis", Proceedings of the Third International Conference on Advanced A/D and D/A Conversion Techniques and their Applications, pp.157-159, Glasgow, Julho, 1999.
• J. Machado da Silva, Jorge S. Duarte, and J. S. Matos, "Test of a SC Filter Using Cross-Correlation and Reconfigurable Hardware", Proceedings of the 5th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop,  pp. 195-200,  Whistler (Canada),  Junho, 1999.
• J. Machado da Silva, Luís C. Laranjeira, and J. S. Matos, "A Method for Testing Analog Clusters Using IEEE P1149.4", Proceedings of the 5th IEEE International Mixed Signal Testing Workshop,  pp. 125-130,  Whistler (Canada),  Junho, 1999.
• Luís C. Laranjeira, J. M. da Silva, e J. S. Matos, "A Method for Testing Analogue and Mixed-Signal Clusters Using IEEE P1149.4", Proceedings of the XIII Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pág. 432-437, Madrid, Novembro, 1998.
• Jorge S. Duarte, J. M. da Silva, e J. S. Matos, "A  Configurable Analogue and Mixed-Signal Tester Board", Proceedings of the XIII Design of Circuits and Integrated Systems Conference,  pág. 610-615, Madrid, Novembro, 1998.
• José S. Matos, and José M. Silva, "Mixed-Signal Board Level DfT Techniques Using IEEE P1149.4", Proceedings of the 5th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, pág. 2.441-2.446, Lisboa, Setembro, 1998.
• J. C. Ferreira, A. C. Leão, J. M. da Silva, e J. S. Matos, "High-Level Test Specification and Planning for Mixed-Signal Boards with Boundary-Scan", Proceedings of the XII Design of Circuits and Integrated Systems Conference,  pág. 33-38,  Sevilha,  Novembro, 1997.
• José Machado da Silva, Ana C. Leão, José C. Alves, e José Silva Matos, "Experiments on Mixed Current/Voltage Testing Using the IEEE P1149.4 Infrastructure", Proceedings of the XII Design of Circuits and Integrated Systems Conference, pág. 39-44, Sevilha, Novembro, 1997.
• José M. da Silva, Ana C. Leão, José C. Alves, e José S. Matos, "Implementation of Mixed Current/Voltage Testing Using the IEEE P1149.4 Infrastructure", Proceedings of International Test Conference, pág. 509-517, Washington, Novembro, 1997.
• José Machado da Silva, José C. Alves, e José Silva Matos, "Implementation and Evaluation of Mixed Current/Voltage Testing Using the IEEE P1149.4 Infrastructure", Proceedings of the IEE Colloquium on Testing Mixed Signal Circuits and Systems, Londres, Outubro, 1997.
• José Machado da Silva, e José Silva Matos, "Using Power Supply Current Monitoring and P1149.4 for Parametric Testing of Passive Components, Proceedings of the IEEE International Symposium on Circuits and Systems", pág.2713-2716, Hong Kong, Junho, 1997.
• José Machado da Silva, e José Silva Matos, "O Barramento de Teste Analógico IEEE P1149.4 — Descrição e Exemplos de Aplicação", Actas do 3º Encontro Nacional do Colégio de Engenharia Electrotécnica da Ordem dos Engenheiros, pág. 178-183,  Matosinhos, Junho, 1997.
• J. Machado da Silva, e J. Silva Matos, "Parametric Testing of Passive Components Using Power Supply Current Monitoring", Proceedings of the XI Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, pág. 119-123, Sietges-Barcelona, Novembro, 1996.
• J. Machado da Silva, e J. Silva Matos, "Evaluation of iDD and vOUT Cross-correlation for Mixed Current/Voltage Testing of Analogue and Mixed-Signal Circuits", Proceedings of The European Design & Test Conference, pág. 264-268, Paris, Março, 1996.
• J. Machado da Silva, e J. Silva Matos, "Mixed Current/Voltage Testing of Analogue and Mixed-Signal Circuits", Digest of Papers of the IEEE International Workshop on IDDQ Testing, pág. 14-18, Washigton, Outubro, 1995.
• J. Machado da Silva, J. Silva Matos, Ian M. Bell, e Gaynor E. Taylor, "Use of Power Supply Current and Output Voltage Observation for Testing Large Mixed-Signal Devices", Proceedings of the 38th Midwest Symposium on Circuits and Systems, pág. 1201-1204, Vol.2, Rio de Janeiro, Agosto, 1995.
• J. S. Matos, J. C. Ferreira, A. C. Leão, e J. M. Silva, "An Approach to Testability Improvement of Mixed-Signal Boards", Proceedings of the IEEE International Symposium on Circuits and Systems, pág. 161-164, Vol.  6, Londres, Junho, 1994.
• José M. Silva, José S. Matos, Ian M. Bell, e Gaynor E. Taylor, "Avaliação do Teste de Circuitos Electrónicos Analógicos e Mistos (A/D) por Monitorização da Corrente de Alimentação", Actas do 1º Encontro Nacional do Colégio de Engenharia Electrotécnica da Ordem dos Engenheiros, pág. 187-192, Lisboa, Maio, 1994.
• Ana Leão, João Canas Ferreira, José Machado da Silva, e José Silva Matos, "Teste de Circuitos Electrónicos Analógicos a Partir de um Barramento de Teste Digital Normalizado", Actas do 1º Encontro Nacional do Colégio de Engenharia Electrotécnica da Ordem dos Engenheiros, pág. 199-204, Lisboa, Maio, 1994.
• José S. Matos, João C. Ferreira, Ana C. Leão, e José M. Silva, "Architecture of Test Support ICs for Mixed-Signal Testing", Proceedings of the 12th IEEE VLSI Test Symposium, pág. 240-246, New Jersey, Abril, 1994.
• J. Canas Ferreira, A. Carneiro Leão, J. Machado da Silva, e J. Silva Matos, "An IC Architecture for Board-Level Mixed-Signal Test Support", Proceedings of the IEEE 7th Mediterranean Electrotechnical Conference — MELECON'94, pág. 637-640, Vol. 2, Antalya - Turquia, Abril, 1994. 
• José Machado da Silva, "Circuitos Integrados de Aplicação Específica (ASICs) na Electrónica de Potência", Actas do Encontro Nacional para o Desenvolvimento das Indústrias Eléctrica e Electrónica, ENDIEL'91, pág. 45,  Lisboa, Maio/Junho 1991.
• A. R. Quintas, C. S. Barbosa, J. R. Faria, A. P. Martins, A. S. Araújo, e J. M. da Silva, "Contrato de Desenvolvimento Industrial. Fontes de Alimentação Não Interruptíveis", Actas do Encontro Nacional para o Desenvolvimento das Indústrias Eléctrica e Electrónica, ENDIEL'89, pág. 423, Matosinhos,  Abril 1989.
• A. Quintas, A. Martins, J. Faria, A. Araújo, e J. Silva, "The Use of Power Darlington Transistors in a 40 kVA UPS System - An Improved Solution", Proceedings of the IEEE 24th Industry Applications Society Annual Meeting, San Diego, pág. 974 - 981, Outubro 1989.
• A. R. Quintas, A. P. Martins, J. R. Faria, A. S. Araújo, e J. M. da Silva, "Overcurrent Protection and Switching Aid for Power Darlington's: An Unique Approach", Proceedings of the 3rd European Conference on Power Electronics and Applications, EPE-89, October 9-12, Aachen, Germany, 1989.
• A. R. Quintas, J. M. da Silva, J. R. Faria, A. S. Araújo, e A. P. Martins, "Semicondutores de Potência - Critérios de Selecção", Actas do Encontro Nacional para o Desenvolvimento das Indústrias Eléctrica e Electrónica, ENDIEL'87, pág. 1, Lisboa,  Janeiro/Fevereiro 1987.
• A. R. Quintas, J. R. Faria, A. P. Martins, A. S. Araújo, e J. M. da Silva, "Contrato de Desenvolvimento Industrial. Fontes de Alimentação Não Interruptíveis", Actas do Encontro Nacional para o Desenvolvimento das Indústrias Eléctrica e Electrónica, ENDIEL'87, pág. 98, Lisboa, Janeiro/Fevereiro 1987.
• A. R. Quintas, A. S. Araújo, J. M. da Silva, J. R. Faria, e A. P. Martins, "Protecção de Transístores Darlington Bipolares de Elevada Potência (450V, 300A) Contra Curto-circuito e Sobrecarga", Actas do Encontro Nacional para o Desenvolvimento das Indústrias Eléctrica e Electrónica, ENDIEL'87,  pág. 69, Lisboa, Janeiro/Fevereiro 1987.
• A. R. Quintas, J. R. Faria, A. P. Martins, A. S. Araújo, e J. M. da Silva, "Circuitos de Auxílio à Comutação em Pontes Transistorizadas", Actas do Encontro Nacional para o Desenvolvimento das Indústrias Eléctrica e Electrónica, ENDIEL'87, pág. 11, Lisboa,  Janeiro/Fevereiro 1987.